ASTM E2445 - E 2445M - 20
ASTM E2445 - E 2445M - 20 是一份由美国材料与试验协会(ASTM)发布的标准规范,主要涵盖工业计算机断层扫描(CT)系统的性能评估与长期稳定性验证方法。该标准适用于X射线与γ射线CT系统,详细规定了空间分辨率、对比灵敏度、噪声水平及几何畸变等关键参数的测试程序与验收准则,确保CT成像设备在无损检测(NDT)应用中具备可靠的检测一致性与可重复性。通过遵循该标准,检测人员能够系统评价设备在材料缺陷识别、内部结构分析及尺寸测量中的表现,从而为航空航天、汽车制造、电子元件及增材制
2024-09-04
11
1.25MB
21 页